ВВЕДЕНИЕ надёжности радиоэлектронных устройств кратко

Привет, Вы узнаете о том , что такое ВВЕДЕНИЕ надёжности радиоэлектронных устройств, Разберем основные их виды и особенности использования. Еще будет много подробных примеров и описаний. Для того чтобы лучше понимать что такое ВВЕДЕНИЕ надёжности радиоэлектронных устройств , настоятельно рекомендую прочитать все из категории Надежность радиоэлектронных устройств.

Под надежностью понимают свойство изделия сохранять в течение заданного времени в пределах установленных норм значения функциональных параметров при определенных условиях (заданные режимы и условия эксплуатации, технического обслуживания , хранения и транспортирования).

В теории и практике надежности технических изделий широко пользуются понятием наработка, под которой понимают продолжительность работы изделия, выраженную в часах, циклах переключения или других единиц в зависимости от вида и функционального назначения изделия.

Оценка показателей надежности радиоэлектронных устройств (РЭУ) является обязательной процедурой, выполняемой на этапе проектирования аппаратуры. Актуальность задач по расчету надежности объясняется тем, что они дают ответ на вопрос о целесообразности дальнейших затрат, необходимых на отработку технологии и производство радиоэлектронных устройств. Поэтому в задания на дипломное проектирование проектов конструкторского и технологического профиля включают проработку вопросов по оценке показателей надежности РЭУ.

Учебные планы специальностей «Моделирование и компьютерное проектирование радиоэлектронных средств» и «Проектирование и производство радиоэлектронных средств» включают дисциплину, предусматривающую изучение основ теории и методов оценки показателей надежности РЭУ. Полученные навыки и умения студентов в вопросах надежности изделий радиоэлектроники будут востребованы в полной мере в дипломном проектировании.

В настоящее время проектные и промышленные предприятия испытывают трудности при расчете показателей надежности РЭУ из-за неполноты данных о показателях надежности элементов производства стран СНГ, отсутствия данных об элементах зарубежного производства, входящих в состав электронных устройств, а также из-за отсутствия адаптированной к этим условиям системы автоматизированного расчета показателей надежности устройств. Наличие такой системы позволит существенно сократить время решения задачи по оценке надежности электронных устройств в указанных условиях.

Пособие содержит учебный материал по оценке показателей безотказности РЭУ как важнейшей группы количественных показателей надежности. Основу расчета показателей безотказности РЭУ составляют математические модели расчета (прогнозирования) эксплуатационной безотказности элементов. Доля элементов из стран дальнего зарубежья в аппаратуре отечественного производства составляет более 50 %, поэтому авторы сочли целесообразным включить в пособие модели прогнозирования эксплуатационной безотказности элементов производства как стран СНГ, так и стран дальнего зарубежья. При уточнении и описании моделей использованы справочники по надежности, разработанные в Российской Федерации, справочники и стандарты по прогнозированию надежности электронного оборудования, используемые в настоящее время в США, Китае, Франции и Великобритании.

При систематизации методики расчета показателей безотказности РЭУ использованы результаты НИР по разработке промышленной системы автоматизированного расчета и оптимизации надежности электронных устройств – АРИОН, выполняемой кафедрой радиоэлектронных средств Белорусского государственного университета информатики и радиоэлектроники.

также излагаются некоторые положения теории надежности и принципы расчета эксплуатационной интенсивности отказов элементов и оценки показателей безотказности РЭУ в целом.

Надежность радиоэлектронной аппаратуры связана со случайными событиями и величинами, такими как отказ и время работы до отказа. Об этом говорит сайт https://intellect.icu . Для количественного определения надежности используется статистическая оценка качества прибора.

Для сложных систем и комплексов перед оценкой их надежности четко дают определения того, что считать сбоем, а что считать отказом. При этом может учитываться тот факт, что в зависимости от функционального построения системы отказ каких-либо вспомогательных узлов и блоков может и не приводить к отказу системы в целом. Для простых устройств при расчете надежности принято считать, что отказ любого входящего в него компонента ведет к отказу всего устройства.

Хотя в данной статье делается акцент на вопросы надежности силовой электроники, большинство материалов статьи справедливо и для другой радиоэлектронной аппаратуры.

Исходным для количественного определения параметров надежности является распределение вероятности отказа во времени. Для оценки этого распределения какое-то количество изделий эксплуатируется длительное время и отмечаются моменты выхода из строя каждого из этих изделий. Если в первый момент времени работоспособны все 100% изделий, то к какому-то моменту времени (в принципе, может быть и при t→∞) все изделия выйдут из строя. Нормированная кривая, построенная на основании большого числа измерений, характеризует плотность вероятности отказа во времени f(t). При помощи плотности вероятности f(t) находят другие характеристики надежности элементов, а именно: вероятность отказа элементов в интервале времени от t до t+Δt, вероятность безотказной работы элемента в течение времени t, средний срок службы элементов, интенсивность отказов элементов, определяемую как доля выходящих из строя элементов в единицу времени по отношению к их количеству в момент t, частоту отказов элементов (определяется как доля выходящих из строя элементов в единицу времени по отношению к их начальному количеству), среднюю частоту отказов элементов.

Одним из факторов, определяющих общую надежность устройства, является надежность входящих в него элементов: сопротивлений, конденсаторов, диодов, транзисторов, трансформаторов, интегральных схем (ИС) и т. д. Выход из строя любого из этих элементов или изменение их параметров сверх определенных пределов приведет к отказу всего изделия.

Для большинства элементов радиоэлектронной аппаратуры зависимость λ от времени имеет вид U-образной кривой (рис. 1).

Рис. 1. Зависимость изменения интенсивности отказов от времени

В первый отрезок времени, называемый периодом приработки, выходят из строя элементы, имеющие грубые дефекты, не вскрытые контролем. После выявления этих элементов интенсивность отказов уменьшается и далее остается постоянной, наступает период нормальной работы. По мере износа элементов интенсивность отказоввновь возрастает, начинается период старения элементов.

СПИСОК СОКРАЩЕНИЙ И ОПРЕДЕЛЕНИЙ *

• БИС – большая интегральная схема
• ИМС – интегральная микросхема
• ИС – интегральная схема
• КМОП – структура на комплементарных МОП-транзисторах
• МОП – структура «металл – окисел – полупроводник»
• НИР – научно-исследовательская работа
• ОЗУ – оперативное запоминающее устройство
• ОКР – опытно-конструкторская работа
• ПЗУ – постоянное запоминающее устройство
• ПЛИС – программируемые логические интегральные схемы
• ППЗУ –программируемое ПЗУ
• ППП – полупроводниковый прибор
• РПЗУ – перепрограммируемое (репрограммируемое) ПЗУ
• РЭА – радиоэлектронная аппаратура
• РЭС – радиоэлектронное средство
• РЭУ – радиоэлектронное устройство
• РЭФУ – радиоэлектронный функциональный узел
• СБИС – сверхбольшая интегральная схема
• СВЧ – сверхвысокая частота
• ТЗ – техническое задание
• ТТ – технические требования
• ТУ – технические условия
• ЭРИ – электрорадиоизделие
• Chip Carrier – корпус с расположенными на его нижней части контактами, предназначенный для поверхностного монтажа
• CMOS – Complement Metal Oxide Semiconductor (комплементарная структура метал – оки- сел – полупроводник, русскоязычная аббревиатура – КМОП)
• DIP – Dual In-line Package (корпус с двумя рядами прямоугольных выводов – ДИП-корпус, представляет собой прямоугольный корпус с расположенными на длинных сторонах контактами. Его также называют корпусом второго типа. В зависимости от материала корпуса выделяют два варианта исполнения: PDIP – Plastic DIP, имеет пластиковый корпус; CDIP – Ceramic DIP, имеет керамический корпус)
• Flat Package – корпус с планарными выводами
• JFET – Junction Field-Effect Transistor (полевой транзистор с управляющим p–n-переходом, работающий в режиме обогащения)
• PGA – Pin Grid Array (тип корпуса, в котором контактные штыри размещены на дне в виде концентрических квадратов)
• PLA – Programmable Logic Array (программируемые логические матрицы – ПЛМ, программируемые логические интегральные схемы – ПЛИС)
• MESFET – Metallized Semiconductor Field-Effect Transistor (полевой транзистор структуры ММП, полевой транзистор с барьером Шоттки)
• MOSFET – Metal–Oxide–Semiconductor Field-Effect Transistor (канальный полевой униполярный МОП-транзистор)
• SMD – Surface Mount Device (СМД – элементы поверхностного монтажа)
• SMT – Surface Mount Technology (технология поверхностного монтажа)
• QML – Qualified Manufactures List (перечень аттестованных производителей)
• QPL – Qualified Products List (перечень аттестованной продукции)

*

В зависимости от контекста приведенные сокращения могут использоваться в единственном и во множественном числе.

Вау!! 😲 Ты еще не читал? Это зря!

• теории надежности радиоэлектронной аппаратуры основные понятия , определения резервирование техническое обслуживание ,
• надёжность радиоэлектронных устройств , надёжность рэу ,

Исследование, описанное в статье про ВВЕДЕНИЕ надёжности радиоэлектронных устройств, подчеркивает ее значимость в современном мире. Надеюсь, что теперь ты понял что такое ВВЕДЕНИЕ надёжности радиоэлектронных устройств и для чего все это нужно, а если не понял, или есть замечания, то не стесняйся, пиши или спрашивай в комментариях, с удовольствием отвечу. Для того чтобы глубже понять настоятельно рекомендую изучить всю информацию из категории Надежность радиоэлектронных устройств

Ответы на вопросы для самопроверки пишите в комментариях, мы проверим, или же задавайте свой вопрос по данной теме.